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产品型号:
JX40M
产品名称:
金相显微镜 硅片检测显微镜 材料检测 电极检测
产品报价:
产品特点:
三目金相显微镜载物台双层机械移动平台,低手位X、Y方向同轴调节;平台面积175X145mm,移动范围:76mmX42mm上照明系统自适应宽电压100V-240V AC50/60Hz,反射灯室,单颗大功率5WLED,暖色,柯拉照明,带视场光阑与孔径光阑,中心可调,带斜照明装置
金相显微镜 硅片检测显微镜 材料检测 电极检测
  JX40M金相显微镜 硅片检测显微镜 材料检测 电极检测的详细资料:

金"益求精,铸造品质

■JX-40M作为改良型金相显微镜,整合了我们销量机型JX-4R及研发的JX-50M研究级金相显微镜的多项技术优势,并根据市场需求重新优化配置整体性能。

■JX-40M以优异的成像性能、舒适的操作体验,为客户提供高性价比的金相分析及工业检测解决方案。

■新改良的LMPlan系列长工作距金相物镜,提升色差校正水平,同时调整膜系设计,进一步提升图像分辨率与色彩还原性。

■采用新生儿睡床舒适角度(30°)的观察筒,能够缓解用户在长时间工作状态下的紧张与疲劳,保证观察状态。观察筒上的刻度,方便用户自行调节瞳距范围。

■落射照明器采用LED柯拉照明系统,带视场光阑、孔径光阑和斜照明装置;预设起偏镜、检偏镜与滤色片插槽。

■单颗5W LED 暖白光照明(3000-3300K),与同类LED照明相比,能zui大程度降低观察者的视觉疲劳。

■视场光阑与孔径光阑拉杆装置,中心可调, 能灵活调节照明范围的大小,有效避免杂光对图像的影响。

■起偏镜与检偏镜可实现简易偏光观察,您也可根据需求,选择不同颜色的滤色片获得理想的观察效果。

■透反射机架可放置样品高达28mm,反射机架通过旋转右图相同位置螺钉,可将载物台下降50mm,从而使zui大样品高度可达78mm。

■M4直柄内六角扳手随机存放,充分利用了机身的可用空间,触手可及的工具使您的操作更加便捷。

■随机限位装置,可有效防止样品与物镜碰触,避免损伤。

■采用JX-50M优秀的聚光系统,数值孔径大,亮度高,大幅提升透射光通过率。

■JX-40M可提供明场、斜照明、简易偏光等多种观察功能,明场图像高亮度、高分辨率、正色还原;斜照明能凸显直观立体浮雕效果。

 技术规格

光学系统

无限远色差校正光学系统

观察筒

30°倾斜,无限远铰链双目观察筒,瞳距调节:54mm~75mm,单边视度调节:±5屈光度

30°倾斜,无限远铰链三通观察筒,瞳距调节:54mm~75mm,单边视度调节:±5屈光度,两档分光比R:T=100:0或50:50

目镜

高眼点大视野平场目镜PL10X22mm

高眼点大视野平场目镜PL10X22mm(带测微尺)

高眼点大视野平场目镜PL10X22mm(视度可调)

高眼点大视野平场目镜PL15X16mm

物镜

平场无限远长工作距消色差金相物镜(5x、10x、20x、50x、100x)

物镜转换器

内定位五孔转换器

粗微调焦机构

透反两用机架,低手位粗微同轴调焦机构,粗调行程28mm,微调精度0.002mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。带平台位置上下调节机构,zui大样品高度28mm


反射机架,低手位粗微同轴调焦机构,粗调行程28mm,微调精度0.002mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。带平台位置上下调节机构,zui大样品高度78mm

载物台

双层机械移动平台,低手位X、Y方向同轴调节;平台面积175X145mm,移动范围:76mmX42mm

可配反射用金属载物台板,透反两用玻璃载物台板

上照明系统

自适应宽电压100V-240V_AC50/60Hz,反射灯室,单颗大功率5WLED,暖色,柯拉照明,带视场光阑与孔径光阑,中心可调,带斜照明装置

下照明系统

自适应宽电压100V-240V_AC50/60Hz,透射灯室,单颗大功率5WLED,暖色

聚光镜

透射用摇出式消色差聚光镜(N.A0.9),带可变孔径光阑,中心可调

其他附件

透射用滤色片:黄色、IF550滤色片、LBD滤色片、中性滤色片

摄影摄像附件:1X、0.67X、0.5X C接口,可调焦;3.2X摄影目镜,摄像接筒(带PK卡口或MD卡口)数码相机中继镜

反射用干涉滤色片:蓝色<=480nm

            绿色520nm~570nm

            红色630~750nm

            LBD

高精度测微尺,格值0.01mm

 金相显微镜 硅片检测显微镜 材料检测 电极检测

金相显微镜 硅片检测显微镜 材料检测 电极检测


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