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超长工作距物镜、显微物镜 95MM物镜

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MPLN-BD 奥林巴斯明暗视场用物镜

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超长工作距离物镜

电动升降台、位移台电动滑台升降桌

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产品列表

　

产品图片	产品名称/型号	产品简介
	JX40M金相显微镜硅片检测材料检测电极检测	三目金相显微镜载物台双层机械移动平台,低手位X、Y方向同轴调节;平台面积175X145mm,移动范围:76mmX42mm上照明系统自适应宽电压100V-240V AC50/60Hz,反射灯室,单颗大功率5WLED,暖色,柯拉照明,带视场光阑与孔径光阑,中心可调,带斜照明装置金相显微镜硅片检测显微镜材料检测电极检测
	JX-200i透反射金相显微镜光纤端面检查纤维检查	无限远。系统光学放大倍数：100~800X。10X高眼点目镜。10X 20X 50X 80X无限远平场消色差金相物镜。物镜转换器孔数：五孔。同轴粗微调。平台XY行程：76x54mm。卤素灯反射光源。透反射金相显微镜光纤端面检查纤维检查
	JX-200E倒置金相显微镜金相分析，光纤检测	无限远。系统光学放大倍数：50~1000X。10X高眼点目镜。5X 10X 20X 50X 100X长工作距离平场消色差金相物镜。标配摄像目镜：0.5X。观察头角度：45°。物镜转换器孔数：四孔。同轴粗微调。平台XY行程：75x40mm。卤素灯反射光源。输入电压：AC 90~240V 50/60Hz 倒置金相显微镜金相分析，光纤检测特价促销售
	JX-N120金相显微镜锡球检测，实验室分析	无限远平场光学系统，提供了的光学性能可供观察和检测各种PCB线路板、LCD液晶显示板、金属金相组织，其舒适精致的镜体机构、轻松快捷的操作方式，是工矿企业工业光学检测仪器及学校金相教学用仪器的* 金相显微镜锡球检测，实验室分析
	JX-17倒置金相显微镜适合超大金属检测	产品介绍：主要用于鉴别和分析金属内部结构组织，为金属物理学研究金相的重要工具。本仪器选配的摄影装置，可拍摄金相图谱所需的整倍数照片，适用于厂矿企业、高等院校及科研等部门。同轴调焦机构，粗动松紧可调，带锁紧和限位装置，微动格值:2μm。倒置金相显微镜适合超大金属检测，涂层检测特价促销
	JX-100F倒置金相显微镜金属分析检测，纤维	适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物体,即要透射光反射光照明的的物体,如：气弹簧、集成块、印刷电路板 .液晶板、薄膜、纤维、纺织、镀涂层以及其它非金属材料,也适合医药、农林、安检学校、科研部门作观察分析用。同时也是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器倒置金相显微镜金属分析检测，纤维，纺织检测
	JX-203金相显微镜液晶板、薄膜、纤维	正置金相显微镜适用于对不透明物体进行显微观察。本仪器配置落射照明器、长距平场消色差物镜（无盖玻片）、大视野目镜和内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，操作方便等特点，是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。金相显微镜液晶板、薄膜、纤维、纺织、镀涂层特价促销
	M-1000探针台显微镜探针检测超长工作距离	SM-1000E工业显微镜采用全新的一体化设计，具有优异的光学成像质量，造型新颖，使用方便，并具有丰富的扩展功能，可以广泛应用于冶金、半导体、电子等行业的制造和研究领域。人机工程头部SM-1000E双目观察头可以在3°-　30°转动，调整观察眼点的高度和观察方向，使操作者的使用更加舒适。探针台显微镜探针检测超长工作距离，超大景深超长工作距
	JX-6金相显微镜超长工作距物镜超大移动台	工业显微镜广泛应用于半导体,电子工业进行晶体,集成电路的检验和科学研究。半导体硅片检测，材料科学，地质矿物质精密工程无限远。系统光学放大倍数：20~500X。10X可调目镜。2X 5X 10X 20X 50X无限远超长工作距离平场复消色差金相物镜。观察头角度：45°。物镜转换器孔数：五孔。金相显微镜超长工作距物镜超大移动台液晶板检查矿石
	JX-160供应三目正置金相显微镜超大移动平台	JX-160金相显微镜12800元，JX-160B 价格22000元。无限远。系统光学放大倍数：40~400X。物镜转换器孔数：五孔。同轴粗微调。平台XY行程：197x247mm。卤素灯反射光源。反射光路形式：明场。输入电压：AC 220V 50Hz。净重：16.28kg 供应三目正置金相显微镜超大移动平台超长工作物镜
	RJ-S2PDV派迪威金相分析软件金相显微镜	PDV派迪威金相分析软件金相显微镜一、产品介绍： 1、产品组成：本软件产品由程序光盘（内有安装程序和说明书的电子文档）和加密gou组成。 2、运行环境：本软件可在 WINDOWS XP、WINDOWS 7、WINDOWS 8、WINDOWS 10 等操作
	JX-BH200M 双目透反射金相显微镜6000元	透反射金相显微镜、金属检测显微镜、焊锡检测显微镜、光刻板检测、电极检测，半导体硅片检测，材料科学，地质矿物质精密工程 JX-BH200M 双目透反射金相显微镜6000元 JX-BH200MS三目5400元

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