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微分干涉检测显微镜

简要描述:WF-10R 微分干涉检测显微镜
无限远光学系统,长工作距离平场复消色差物镜,稳定可靠的架台,精确的调焦机构。广泛应用于半导体工业、电子工业、等领域。DIC观察模式尤其适合液晶显示屏导电板的检测。

  • 产品型号:WF-10R
  • 更新时间:2022-10-18
  • 产品资料:

WF-10R 微分干涉检测显微镜

无限远光学系统,长工作距离平场复消色差物镜,稳定可靠的架台,精确的调焦机构。广泛应用于半导体工业、电子工业、等领域。DIC观察模式尤其适合液晶显示屏导电板的检测。

产品规格

型号WF-10R
光学系统无限远光学系统
平场复消色差物镜10倍/NA0.28/WD34
检偏装置0°~105°转动式检偏器
微分干涉0 ~ 10mm 移动式插板器
调焦系统同轴调焦机构、微动格值:0.001mm调焦范围:60mm
载物台矩形双层活动平台:260X220mm载物台玻璃尺寸:170X150mm移动范围:±75X±75mm
照明系统LED反射式科勒照明, 带起偏器

LDE透射照明

规格配置:

1.无限远光学系统:F=200MM

2.光学放大倍数:50X、100X、200X

3.观察方式:明场、偏光、微分干涉

4.长工作距离:20-45MM

5.调焦范围:60MM

6.平台移动范围:X:±75MM、Y:±75MM

7.照明系统:垂直LED照明、透射LED照明

8.成像装置:数字相机或模拟摄像头

观察方式:

1.明场观察:亮度可调同轴LED照明,视野清晰明亮,适合集成电路的检验、精密制造业的装配、零件检测和品质控制。

2.透射观察:采用亮度可调的透射照明,可观察透明样品,尤其适合用户液晶显示屏的品质检测,能清楚的观察发光屏的三色模块。

3.偏光观察:系统内装置偏光机构。可调的检偏镜,便于正交观察。广泛应用于金相试样、岩矿、煤岩、高分子试样等偏光观察。

4.DIC观察--微分干涉观察:在系统插入DIC棱镜装置(渥拉斯顿棱镜),能突出样品各组成之间的相对层次关系,使之呈明显的浮雕状,对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等能做出正确的判断。DIC显微镜观察法特别适用于液晶显示屏导电板的检测,能够清楚的观察到导电板基板上的导电粒子。


WF-10R 微分干涉检测显微镜


WF-10R <strong><strong>微分干涉检测显微镜</strong></strong>超大平台显微检测显微镜无限远光学系统设计,采用同轴照明,2X、5X、10X、20X、50X长工作距离平场消色差物镜,覆盖低倍大视野观察和高倍分辨率分析研究等应用,广泛用于液晶面板和半导体等品质检测。配置高清晰CCD相机采集显微镜图像。体积:L:770,W:1240,H:470平台台面尺寸:650MMX650MM平台移动范围:X:±270MM;Y:±270MM主机调焦范围:Z:40MM
WF-10R <strong><strong>微分干涉检测显微镜</strong></strong>6英寸高精度手动平台工作台面:260x220MM玻璃面:170X150MM移动范围:X:±75MM、Y:±75MM
WF-10R <strong><strong>微分干涉检测显微镜</strong></strong>调焦部件粗调、微调独立调节,机构运行平稳,稳定可靠,承载能力大。粗调采用齿轮、齿条驱动方式,采用弹簧来平衡上升的动力。微调采用杠杆原理来完成,不同于普通的齿轮传动微调方式。精度为0.001MM,调焦范围60MM。
WF-10R <strong><strong>微分干涉检测显微镜</strong></strong>

检测显微镜单筒显微镜,物镜可换。可以装在多种机架上使用,广泛用于制造业的现场检测、记录、分析研究。特点

:1.无限远光学系统  2.LED同轴照明3.根据被检测的样品需要可选物镜2X、5X、10X、20X








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