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产品型号:
WF-10R
产品名称:
微分干涉检测显微镜
产品报价:
产品特点:
无限远光学系统,长工作距离平场复消色差物镜,稳定可靠的架台,精确的调焦机构。广泛应用于半导体工业、电子工业、材料科研等领域。DIC观察模式尤其适合液晶显示屏导电板的检测。
微分干涉检测显微镜
  WF-10R微分干涉检测显微镜的详细资料:

产品描述

·无限远光学系统,涵盖明场、偏光、微分干涉等观察方式。

·反射、透射两种照明系统可选择。长工作距离平场复消色差物镜。

·适用于半导体工业、电子工业、材料研究等领域。

产品规格

WF-10R

 

光学系统

无限远光学系统

平场复消色差物镜

10倍/NA0.28/WD34

检偏装置

0°~105°转动式检偏器

微分干涉

0 ~ 10mm 移动式插板器

调焦系统

同轴调焦机构、微动格值:0.001mm

调焦范围:60mm

载物台

 

矩形双层活动平台:260X220mm

载物台玻璃尺寸:170X150mm

移动范围:±75X±75mm

照明系统

LED反射式科勒照明, 带起偏器

 

LDE透射照明

WF-10R 微分干涉检测显微镜

 无限远光学系统,长工作距离平场复消色差物镜,稳定可靠的架台,精确的调焦机构。广泛应用于半导体工业、电子工业、材料科研等领域。DIC观察模式尤其适合液晶显示屏导电板的检测。

规格配置:

1.无限远光学系统:F=200MM

2.光学放大倍数:50X、100X、200X

3.观察方式:明场、偏光、微分干涉

4.长工作距离:20-45MM

5.调焦范围:60MM

6.平台移动范围:X:±75MM、Y:±75MM

7.照明系统:垂直LED照明、透射LED照明

8.成像装置:数字相机或模拟摄像头

 

观察方式:

1.明场观察:亮度可调同轴LED照明,视野清晰明亮,适合集成电路的检验、精密制造业的装配、零件检测和品质控制。

2.透射观察:采用亮度可调的透射照明,可观察透明样品,尤其适合用户液晶显示屏的品质检测,能清楚的观察发光屏的三色模块。

3.偏光观察:系统内装置偏光机构。可调的检偏镜,便于正交观察。广泛应用于金相试样、岩矿、煤岩、高分子试样等偏光观察。

4.DIC观察--微分干涉观察:在系统插入DIC棱镜装置(渥拉斯顿棱镜),能突出样品各组成之间的相对层次关系,使之呈明显的浮雕状,对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等能做出正确的判断。DIC显微镜观察法特别适用于液晶显示屏导电板的检测,能够清楚的观察到导电板基板上的导电粒子。

 

超大平台显微检测显微镜

无限远光学系统设计,采用同轴照明,2X、5X、10X、20X、50X长工作距离平场消色差物镜,覆盖低倍大视野观察和高倍分辨率分析研究等应用,广泛用于液晶面板和半导体等品质检测。配置高清晰CCD相机采集显微镜图像。

体积:L:770,W:1240,H:470

平台台面尺寸:650MMX650MM

平台移动范围:X:±270MM;Y:±270MM

主机调焦范围:Z:40MM

 

6英寸高精度手动平台

工作台面:260x220MM

玻璃面:170X150MM

移动范围:X:±75MM、Y:±75MM

 

调焦部件

粗调、微调独立调节,机构运行平稳,稳定可靠,承载能力大。粗调采用齿轮、齿条驱动方式,采用弹簧来平衡上升的动力。微调采用杠杆原理来完成,不同于普通的齿轮传动微调方式。

精度为0.001MM,调焦范围60MM。

检测显微镜

单筒显微镜,物镜可换。可以装在多种机架上使用,广泛用于制造业的现场检测、记录、分析研究。

特点:

1.无限远光学系统

2.LED同轴照明

3.根据被检测的样品需要可选物镜2X、5X、10X、20X

微分干涉检测显微镜

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